微膠囊的粒徑分布用什麼儀器可以測

Ⅰ zetasizer nano系列儀器怎麼測量粒徑

粒徑分析和Zeta電位_其它_高等教育_教育專區。粒徑分析和Zeta電位測定 (Zetasizer Nano系列粒度分析儀-Nano.

Ⅱ 為什麼用激光粒度儀測得的納米材料粒徑分布不是正態分布在做實驗前，老師說做的好的話可以是的的、

首先你思考一下，誰規定的納米材料的粒度分布一定是正態分布的，回有啥科學依據？現在很多答人使用粒度儀，盲目的以為測試結果是正態分布的漂亮峰型就說明結果可信，這本身就是一個誤會。這個誤會來源於兩點：1、做材料的人潛意識希望自己做出的粉體材料粒度分布均勻理想，期望測試出的結果是正態分布的。2、激光粒度儀本身測試有問題的時候有時會表現出測試結果亂峰（有多個微粉分布峰值，粒度分布曲線看起來不漂亮）。
所以，你需要從分散方法是否正確、樣品自身分散性能、儀器狀態是否正常、儀器操作及參數設置是否正確這幾個方面分析儀器測試數據的可靠性。而不是看著峰型是否漂亮來判斷結果可靠性。不要盲目相信"老師"。學習學習，學的是分析問題的能力，不是學習怎麼出個好看的數據。

Ⅲ 用什麼儀器可以測試聚丙烯的分子量分布

配成THF溶液後，去測GPC
下面是從網上看到的
聚合物分子量的主要測定方法
高聚物的分子量及分子量分布，是研究聚合物及高分子材料性能的最基本數據之一。它涉及到高分子材料及其製品的力學性能，高聚物的流變性質，聚合物加工性能和加工條件的選擇。也是在高分子化學、高分子物理領域對具體聚合反應，具體聚合物的結構研究所需的基本數據之一。聚合物分子量的測定方法概括如下：
1.粘度法測相對分子量（粘均分子量Mη）
用烏式粘度計，測高分子稀釋溶液的特性粘數，根據Mark-Houwink公式＝kMα，從文獻或有關手冊查出k、α值，計算出高分子的分子量。其中，k、α值因所用溶劑的不同及實驗溫度的不同而具有不同數值。
2.小角激光光散射法測重均分子量（Mw）
當入射光電磁波通過介質時，使介質中的小粒子（如高分子）中的電子產生強迫振動，從而產生二次波源向各方向發射與振盪電場（入射光電磁波）同樣頻率的散射光波。這種散射波的強弱和小粒子（高分子）中的偶極子數量相關，即和該高分子的質量或摩爾質量有關。根據上述原理，使用激光光散射儀對高分子稀溶液測定和入射光呈小角度（2℃－7℃）時的散射光強度，從而計算出稀溶液中高分子的絕對重均分子量（MW） 值。採用動態光散射的測定可以測定粒子（高分子）的流體力學半徑的分布，進而計算得到高分子分子量的分布曲線。
3.體積排除色譜法（SES）（也稱凝膠滲透色譜法（GPC））
當高分子溶液通過填充有特種多孔性填料的柱子時，溶液中高分子因其分子量的不同，而呈現不同大小的流體力學體積。柱子的填充料表面和內部存在著各種大小不同的孔洞和通道，當被檢測的高分子溶液隨著淋洗液引入柱子後，高分子溶質即向填料內部孔洞滲透，滲透的程度和高分子體積的大小有關。大於填料孔洞直徑的高分子只能穿行於填料的顆粒之間，因此將首先被淋洗液帶出柱子，而其他分子體積小於填料孔洞的高分子，則可以在填料孔洞內滯留，分子體積越小，則在填料內可滯留的孔洞越多，因此被淋洗出來的時間越長。按此原理，用相關凝膠滲透色譜儀，可以得到聚合物中分子量分布曲線。配合不同組分高分子的質譜分析，可得到不同組分高分子的絕對分子量。用已知分子量的高分子對上述分子量分布曲線進行分子量標定，可得到各組分的相對分子量。由於不同高分子在溶劑中的溶解溫度不同，有時需在較高溫度下才能製成高分子溶液，這時GPC柱子需在較高溫度下工作。
4.質譜法
質譜法是精確測定物質分子量的一種方法，質譜測定的分子量給出的是分子質量m對電荷數Z之比，即質荷比（m/Z）過去的質譜難於測定高分子的分子量，但近20餘年由於我的離子化技術的發展，使得質譜可用於測定分子量高達百萬的高分子化合物。這些新的離子化技術包括場解吸技術（FD），快離子或原子轟擊技術（FIB或FAB）,基質輔助激光解吸技術（MALDI-TOF MS）和電噴霧離子化技術（ESI-MS）。由激光解吸電離技術和離子化飛行時間質譜相結合而構成的儀器稱為「基質輔助激光解吸－離子化飛行時間質譜」（MALDI-TOF MS 激光質譜）可測量分子量分布比較窄的高分子的重均分子量（Mw）。由電噴霧電離技術和離子阱質譜相結合而構成的儀器稱為「電噴霧離子阱質譜」（ESI-ITMS 電噴霧質譜）。可測量高分子的重均分子量（Mw）。
5.其他方法
測定高分子分子量的其他方法還有：端基測定法，沸點升高法，冰點降低法，膜滲透壓法，蒸汽壓滲透法，小角X－光散射法，小角中子散射法，超速離心沉降法等。
在上述方法中，所用儀器：烏式粘度計、激光光散射儀、凝膠滲透色譜儀、質譜儀等。

Ⅳ 測量粒徑的儀器

測量逆境的一切，我覺得像這種一切的話很是有很多的，我覺得你可以去網上了解一下

Ⅳ 測量一般用什麼儀器測

測量什麼?
你是不是在問工地測量的東西?...全占儀.經緯儀.水準儀.一般是用這些東西的..
能回答您的問題很榮幸..

Ⅵ 測量直徑3mm左右，要用什麼儀器才能精確到1微米

可以用ZM10X激光測量，這款為檢測物體外徑提供了非常方便的測量方式。通過多感測器協同工作可測直徑高達500mm

Ⅶ 測粒徑的時候，會得到粒徑和PDI的數據，想請教一下，PDI是粒徑分布指數，它的具體定義是什麼

1、Polymer dispersity index(PDI)是聚合物分散性指數，用於描述聚合物分子量分布。

高分子的分子量通常不均一，本質上是混合物，用平均分子量來描述高分子的分子量大小，平均分子量可分為數均分子量、重均分子量和粘均分子量，其中重均分子量和數均分子量之比稱為多分散性指數，數值大於1。PDI越大，分子量分布越寬；PDI越小，分子量分布越均勻。

2、粒徑的表示

一般將粒徑分為代表單個顆粒大小的單一粒徑和代表由不同大小的顆粒組成的粒子群的平均粒徑。由於實際顆粒的形狀通常為非球形的，難以直接用直徑表示其大小，因此在顆粒粒度測試領域，對非球形顆粒，通常以等效粒徑（一般簡稱粒徑）來表徵顆粒的粒徑。

等效粒徑是指當一個顆粒的物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體（或組合）最相近時，就把該球體的直徑（或組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）。

（1）、最大粒徑

指粒度分布曲線中最大顆粒的等效直徑。D90粒徑、D95粒徑、D98粒徑分別是分布曲線中累積分布為90%、95%、98%時的最大顆粒的等效直徑。

（2）、單一粒徑

球形顆粒的大小是用其直徑來表示的。對於非球形顆粒，一般有三種方法定義其粒徑，即投影徑、幾何當量徑和物理當量徑。投影徑指顆粒在顯微鏡下所觀察到的粒徑。幾何當量徑取與顆粒的某一幾何量相等時的球形顆粒的直徑。物理當量徑取與顆粒的某一物理量相等時的球形顆粒的直徑。

（3）、平均粒徑

平均粒徑是粒度分布曲線中累積分布為50%時的最大顆粒的等效直徑。對於一個由大小和形狀不相同的粒子組成的實際粒子群，與一個由均一的球形粒子組成的假想粒子群相比，如果兩者的粒徑全長相同，則稱此球形粒子的直徑為實際粒子群的平均粒徑。

(7)微膠囊的粒徑分布用什麼儀器可以測擴展閱讀

1、粒度的測量實質上是通過把被測量顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而出的；

2、不同原理的儀器選不同的物理特性或物理行為作為比較的參考量，例如沉降儀選用沉降速度，激光粒度儀選用散射光能分布，篩分法選用顆粒能否通過篩孔等；

3、將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質球體作比較時，有時能找到一個（或一組）在該特性上完全相同的球體，有時則只能找到最相近的球體。由於理論上可以把「相同」作為「相近」的特例，所以在定義中用「相近」一詞，使定義更有一般性；

4、將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質球體作比較時，有時能找到某一個確定的直徑的球與之對應，有時則需要一組大小不同的球的組合與之對應，才能最相近。

5、顆粒的大小統稱為粒度（particlesize）。具體地說，球形顆粒的粒度用他的直徑表示稱為「粒徑（particlediamite）」，非球形顆粒沒有直徑可言，就採用「等效粒徑」的概念描述它的粒度，不同的等效粒徑有不同的物理意義。粒徑是較為具體准確的物理概念。

Ⅷ 激光粒度儀測粒度數據如何分析

不知您的問題是不是用激光粒度儀測試後的測試報告中的具體數據代表什麼意思，如果是的話我用圖片給您解釋一下，希望對您有所幫助。
不同儀器得出的測試報告雖然不是完全一致，但主要項還是一致的，我以濟南微納公司3003干法激光粒度儀的測試報告為例。

測試報告說明：
1. 測試報告由6部分組成：表頭、樣品信息及測試信息、分析結果、圖形、數據表、表尾。
2. 量程：即測試范圍，在軟體的數據模板中選定。
3. 分散介質：用於分散被測樣品的介質。被測物質與分散介質不能發生化學反應，也不能在其中溶解。
4. 分散劑：能夠改變顆粒與液體之間的界面狀態，促進顆粒充分分散的化學物質。
5. 光學濃度：即遮光比。
6. 樣品濃度：即樣品在分散介質中的體積百分比濃度，需要在系數校準設置中輸入體積百分比計算系數後才能分析。
7. 自由分布：由無約束自由擬合演算法所得的樣品本身固有的自然粒度分布。軟體中還設有R-R分布和對數正態分布。
8. X10：顆粒累計分布為10%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的10%。
9. X50：顆粒粒徑分布為50%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的50%。
10. X90：顆粒粒徑分布為90%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的90%。
11. Xav：顆粒群的平均粒徑。
12. S/V：體積比表面積，即單位體積顆粒的表面積。
13. X[3，2]：表面積平均粒徑，是粒徑對表面積的加權平均，又稱索太爾平均徑。
14. X[4，3]：體積平均粒徑，是粒徑對體積（或重量）的加權平均，同上述Xav。
15. 擬合誤差：能譜數據向粒度分布數據轉換時產生的計算誤差。
16. 自定義項目分析結果：用戶根據需要自行添加的分析項目，添加該分析項目後，軟體自動顯示出結果。
17. 粒度分布圖表說明：
橫向是粒徑值，該數值呈對數分布。
左列是體積累計百分比，對應的是上升趨勢的曲線圖。
右列是某一區間的體積百分比，對應的是起伏的直方圖（或曲線圖）。
18. 數據列表是分析圖表相對應的測試結果。

Ⅸ 我需要測下產品的直徑，可以用什麼儀器呢

ZM100激光幕簾直徑測量儀有三種型號，分別為ZM100-25、ZM100-25D、ZM100-5。測徑感測器獨立最大可測59mm的物體直徑，通過多感測器協同工作可測直徑高達500mm，測徑感測器在檢測物體外徑方面提供了非常方便的測量方式。

測徑感測器應用領域：
可用於物體尺寸的非接觸測量與控制，有效降低了生產後的單件檢驗成本，並能有效節省原物料的損耗，降低人員需求。如零件高度、邊緣、直徑、線徑、寬度、間隙、內徑、外徑等。

測徑感測器主要特點：
高精度：最高線性度5um；
量程范圍廣：可測500mm外徑的物體（可根據實際情況定製更大外徑型號）；
可以對操作系統實施不同的參數設置，改變測量方式；
採用半導體激光器發射的激光（波長660nm）作為探測信號，抗干擾能力強；
系統帶有額外的四條輸出信號，帶負載能力強；